nXP-1通(tōng)過一(yī)張圖像測量和(hé)檢查反射↔←ε材料的(de)表面形狀。
由于産品表面的(de)測量隻有(yǒu)一(yī)個(gè)圖像，因此✔≥•可(kě)以進行(xíng)飛(fēi)拍(☆  pāi)，從(cóng)而實現(xiàn)大(dà)面積的(de)快(kuàλ←i)速測量。可(kě)以檢查和(hé)測量通(tōng)常≤α Ω難 以測量的(de)産品表面缺$↓™陷，例如(rú)大(dà)于幾微(wēi&‍γ)米的(de)晶圓芯片表面的(de)缺陷、相(xiàng)機(j÷‍≥ī)膠片的(de)翹曲以及透明(míng)表面上ε¥€(shàng)的(de)氣泡測量。
nXP-1還(hái)可(kě)以根據要(yào)測量和(h★♣&é)安裝的(de)産品的(de)大(dà)小(xi♥Ω>♥ǎo)或形狀進行(xíng)定制(zhì)可(kě)戶所∞¥$ 需的(de)規格。
本産品配有(yǒu)檢驗和(hé)測量的(d∑↑≠e)解決方案，以确保在量産生(shēng)産線上(shàng)達←≈'到(dào)完美(měi)品質。